作者:
James W. Grenning
译者: 尹哲
出版社: 机械工业出版社
出版年: 2012-1
ISBN: 9787111366232
页数: 256
装帧: 平装
定价: 49.00元
原作名: Test Driven Development for Embedded C
丛书: 华章专业开发者丛书
译者: 尹哲
出版社: 机械工业出版社
出版年: 2012-1
ISBN: 9787111366232
页数: 256
装帧: 平装
定价: 49.00元
原作名: Test Driven Development for Embedded C
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0 有用 凝霜 2012-06-02 21:33:44
用了2个小时读完了,里面讲的概念太熟悉了,代码都不需要看,就当复习了。
0 有用 sage.xiong 2020-10-21 15:27:01
需要亲自动手实践一下!!!
1 有用 typedef 2017-05-05 15:11:01
对翻译起码有个要求~译者至少读过以后用自己的语言从新转述一遍而不是简单的对字翻译~很多英文的长句子读起来很难受~另外像里氏替换翻成列丝科芙这样的问题机械工业出版社的编辑没有能发现的吗?
0 有用 hoterran 2012-07-15 19:13:58
里面这个项目和cmockery挺像的.这本书比较简单
0 有用 alex_nuaa 2013-05-02 22:27:08
TDD介绍的深入浅出,而且关于如何把S.O.L.I.D的软件设计理念灵活运用到嵌入式系统开发中,第十一章做了一个很好的展示,中英文看了2遍,不错,推荐。