测试与计量技术基础

作者: 周渭 / 于建国 / 刘海霞
出版社: 西安电子科技大学出版社
出版年: 2004-4-1
页数: 266
定价: 19.00元
装帧: 平装(无盘)
ISBN: 9787560613680
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