VLSI测试方法学和可测性设计

作者: 雷绍充 / 梁峰 / 邵志标
出版社: 电子工业出版社
出版年: 2005-1-1
页数: 300
定价: 29.80元
装帧: 平装(无盘)
ISBN: 9787121003790
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