电子元器件可靠性试验工程

作者: 罗雯 / 阳辉 / 魏建中 / 阳辉 / 魏建中 / 罗雯
出版社: 电子工业出版社
出版年: 2005-3-1
页数: 368
定价: 58.00
装帧: 平装(无盘)
ISBN: 9787121009655
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