扫描遂道显微学引论 短评

作者: [美]陈成钧
原作名: Introdduction to Scanning Tunneling Microscopy
isbn: 7501918899
书名: 扫描遂道显微学引论
页数: 416
译者: 华中一, 朱昂如, 金晓峰
定价: 39.0
出版社: 中国轻工业出版社
出版年: 1996-12-01
装帧: 平装