搞砸了的设计

作者: [日] 中村聪史
出版社: 人民邮电出版社
副标题: 随处可见的 BAD UI
译者: 邬佳笑
出版年: 2016-7-1
页数: 221
定价: 79.00元
装帧: 平装
丛书: 图灵交互设计丛书
ISBN: 9787115428059
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