电子元器件失效分析技术 短评

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电子元器件失效分析技术
作者: 恩云飞, 来萍, 李少平
isbn: 712127230X
书名: 电子元器件失效分析技术
页数: 476
定价: 98.00元
出版社: 电子工业出版社
装帧: 平装
出版年: 2015-11