二手转让: VLSI Test Principles and Architectures

成色 要价 地点 转让者 (点击查看详情)

全新 838.00元 西安 蓝西外文书店     2020-08-12

英文原版全新品。有意者请豆邮。

VLSI Test Principles and Architectures
作者: Wang, Laung-terng (EDT)/ Wu, Cheng-Wen (EDT)/ Wen, Xiaoqing (EDT)
isbn: 9780123705976
书名: VLSI Test Principles and Architectures
页数: 808
定价: 620.00元
出版社: Elsevier Science Ltd
装帧: HRD
出版年: 2006-7

> 去“VLSI Test Principles and Architectures”的页面