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二手转让: VLSI Test Principles and Architectures
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转让者 (点击查看详情)
全新
838.00元
西安
蓝西外文书店
2020-08-12
英文原版全新品。有意者请豆邮。
作者: Wang, Laung-terng (EDT)/ Wu, Cheng-Wen (EDT)/ Wen, Xiaoqing (EDT)
isbn:
9780123705976
书名:
VLSI Test Principles and Architectures
页数:
808
定价:
620.00元
出版社:
Elsevier Science Ltd
装帧:
HRD
出版年:
2006-7
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