第1章 I/O Library 介绍 ……………………………………………………………… 1
1.1 I/O Library 的特征 …………………………………………………………… 1
1.2 I/O Library 的设计流程 ……………………………………………………… 4
1.3 研究工艺的特点 ……………………………………………………………… 5
1.4 设计测试芯片 ………………………………………………………………… 6
1.5 ESD 测试模块 ………………………………………………………………… 7
第2章 ESD——I/O Library 的第一道墙 ………………………………………… 11
2.1 ESD 现象 ……………………………………………………………………… 11
2.2 半导体芯片中的ESD 失败现象 ……………………………………………… 12
2.3 电路可靠性——ESD 测试模型 ……………………………………………… 16
2.4 ESD 标准测试模型的测试组合 ……………………………………………… 25
2.5 ESD 标准测试模型的测试误差 ……………………………………………… 28
2.6 输入/ 输出管脚ESD 器件的设计和布局 …………………………………… 29
参考文献……………………………………………………………………………… 75
第3章 闩锁和保护环 ………………………………………………………………… 77
3.1 闩锁的机理 …………………………………………………………………… 77
3.2 防止闩锁的方法 ……………………………………………………………… 79
3.3 Latch-up 的测试方法 ………………………………………………………… 88
参考文献……………………………………………………………………………… 94
第4章 I/O 电路设计 ………………………………………………………………… 95
4.1 通用型I/O 数据规范和设计 ………………………………………………… 95
4.2 传输线现象 …………………………………………………………………… 96
4.3 GPIO 的输出模块 ……………………………………………………………… 100
4.4 GPIO 的输入模块 ……………………………………………………………… 114
4.5 模拟输入信号 ………………………………………………………………… 117
4.6 混合电压输入/ 输出电路 …………………………………………………… 120
4.7 高压容忍电路中的输入/ 输出电路 ………………………………………… 125
4.8 输出电路的布局 ……………………………………………………………… 128
4.9 I/O 的电源线分布 ……………………………………………………………… 132
4.10 Bond PAD 的位置和布局 …………………………………………………… 134
4.11 内核面积决定化和PAD 面积决定化 ……………………………………… 136
参考文献……………………………………………………………………………… 139
第5章 高速I/O 电路 ………………………………………………………………… 141
5.1 电路补偿 ……………………………………………………………………… 141
5.2 DDR …………………………………………………………………………… 146
5.3 LVDS …………………………………………………………………………… 150
参考文献……………………………………………………………………………… 154
第6章 I/O Library 的模型…………………………………………………………… 155
6.1 综合模型 ……………………………………………………………………… 155
6.2 行为模型 ……………………………………………………………………… 169
6.3 IBIS 模型 ……………………………………………………………………… 171
参考文献……………………………………………………………………………… 181
结束语 …………………………………………………………………………………… 183
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