本书系统介绍晶体的投影与倒易点阵、电子衍射的物理基础、衍射成像、衬度理论、高分辨成像、复杂电子衍射花样、原位透射电镜显微分析技术及透射电子显微镜、扫描电镜、扫描透射电镜、电子探针、背散射电子衍射仪的结构原理与应用；介绍了用于表面分析的俄歇电子能谱、X光电子能谱、扫描隧道显微镜、扫描透射电子显微镜、低能电子衍射、反射高能电子衍射及电子能量损失谱等常用分析技术的原理、特点及其应用；最后介绍了原子探针和中子分析技术等。书中研究和测试的材料包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属间化合物、复合材料等。每章内容作了提纲式的小结，并附有适量的思考题。书中采用了一些作者尚未发表的图片和曲线，同时在实例分析中还引入了一些当前材料界最新的研究成果。
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