System-on-Chip Test Architectures

作者: Laung-Terng Wang / Charles E. Stroud / Nur A. Touba
出版社: Morgan Kaufmann
副标题: Nanometer Design for Testability
出版年: 2007-12-4
页数: 896
定价: USD 84.95
装帧: Hardcover
ISBN: 9780123739735

以下豆列推荐  · · · · · ·  ( 全部 )

谁读这本书?

傅油桃
傅油桃
2月4日 在读

tags:DFT

老顽童大人
老顽童大人
2015年12月1日 想读


已注销
已注销
2014年12月2日 读过


Baywreath
Baywreath
2011年5月13日 想读

tags:VLSI

> 1人在读

> 1人读过

> 4人想读

二手市场

订阅关于System-on-Chip Test Architectures的评论:
feed: rss 2.0