短暂“失联”

单粒子效应是指单个空间高能带电粒子击中微电子器件灵敏区时，由于电离作用产生额外电荷，使电子器件逻辑状态改变、功能受到干扰或者失效。单粒子效应主要包括单粒子翻转、单粒子锁定和单粒子烧毁。
单粒子翻转是高能粒子轰击芯片中的逻辑电路，导致逻辑发生了翻转，即原值为0，轰击之后值翻转为1，值也可由1翻转为0。单粒子翻转导致的故障属于“软故障”，一般可以通过系统复位、重新加电或重新写入等恢复到正常状态。
单粒子锁定是单粒子入射产生的瞬态电流导致设备功能性损坏，单粒子烧毁则是通过造成短路而烧毁电路，这两种情况均可造成不可修复的伤害。
由于高性能的微电子器件被大量应用在航天器系统中，所以单粒子效应的危害十分严重，当它造成航天器控制系统的逻辑混乱时，可能会产生灾难性的后果。